Коливальні стани кластерів, які моделюють адсорбційні комплекси кисню на грані Si(100)

  • M. I. Terebinska Інститут хімії поверхні ім. О.О. Чуйка Національної академії наук України
  • O. V. Filonenko Інститут хімії поверхні ім. О.О. Чуйка Національної академії наук України
  • V. V. Lobanov Інститут хімії поверхні ім. О.О. Чуйка Національної академії наук України

Анотація

Методом теорії функціоналу густини (B3LYP, 6-31G**) розраховані коливальні стани (частоти та форми коливань) адсорбційних комплексів молекули О2, які відтворюють перетворення молекулярно адсорбованого кисню в комплекси, що містять силоксанові зв’язки. Ідентифіковано відомі з літератури експериментально визначені частоти та співставлено їх із частотами коливань атомів відповідних кисеньвмісних структур.

Посилання

Parr R.G., Yang W. Density-functional theory of atoms and molecules. – Oxford: Oxford Univ. Press, 1989. – 333 p.

Becke A.D. 149. Becke A.D. Density-functional exchange-energy approximation with correct asymptotic behavior // Phys. Rev. A. – 1988. – V. 38, N 6. – P. 3098–3100.

Schmidt M.W., Baldridge K.K., Boatz J.A. et al. General atomic and molecular electronic-structure system. Review. // J. Comput. Chem. – 1993. – V. 14, N 11. – P. 1347–1363.

Shanks H., Fang C. J., Ley J. et. al. Infrared spectrum and structure of hydrogenated amorphous silicon // Phys. Stat. Sol. B. – 1980. – V. 100, N 1. – P. 43–55.

Rudder R. A., Cook J. W., Lucovsky G. High photoconductivity in dual magnetron sputtered amorphous hydrogenated silicon and germanium alloy films // Appl. Phys. Lett. – 1984. – V. 45, N 8. – P. 887–889.

Chabal Y.J. High-resolution infrared spectroscopy of adsorbates on semiconductor surfaces: Hydrogen on Si(100) and Ge(100) // Surf. Sci. – 1986. – V. 168, N 594. – P. 1–3.

Terebinska M.I., Lobanov V.V., Grebenyuk A.G. Frequencies of normal vibrations of oxygen complexes on silicon (111) face // Хімія, фізика та технологія поверхні. –2014. – Т. 5, № 1. – С. 10–15.

Bosomworth D.R., Hayes W., Spray A.R.L. Absorption of oxygen in silicon in the near and the far infrared  // Proc. Roy. Soc. London A. – 1970. – V. 317, N 1528. – P. 133–152.

Hrostowski H.J., Kaiser R.H. Infrared adsorption of oxygen in silicon. // Phys. Rev. – 1957. – V. 107, N 4. – P. 966–976.

Наджафов Б.А., Исаков Г.И. Получение и легирование аморфных пленок на основе Si и Ge // Int. Sci. J. for Altern. Energy and Ecology – 2005. – V. 24, N 4. – P. 74 ‑ 78.

Chenco R.M., McDonald R.S., Pell E.M. Vibrational spectra of lithium-oxigen and lithium-boron complexes in silicon // Phys. Rev. – 1965. – V. 138, N 6A. – P. A1775–A1784.

Опубліковано
2014-09-07
Як цитувати
Terebinska, M. I., Filonenko, O. V., & Lobanov, V. V. (2014). Коливальні стани кластерів, які моделюють адсорбційні комплекси кисню на грані Si(100). Поверхня, (6(21), 11-17. вилучено із https://surfacezbir.com.ua/index.php/surface/article/view/533
Розділ
Теорія хімічної будови і реакційної здатності поверхні.